X-ray平面CT  EFPscan-2000詳細介紹：

X-ray平面CT  EFPscan-2000

一. 概述

EFPscan-2000是面向PCBA和IGBT領域的3D X-ray檢測系統(tǒng)，采用了*的Computed Laminography（CL）掃描模式和重建算法，可以在離線、線邊和在線應用，對全板進行檢測。適用于BGA/LGA、pressfit connector、Flip chip、PoP、QFN、PTH、IGBT等電子器件檢測，發(fā)現器件內部的氣孔、開路、橋連、枕頭效應、潤濕不良、缺件、錯件等缺陷

二. 特點與優(yōu)勢

1.最快可在5秒內完成一個FOV區(qū)域的CT成像  

2.大尺寸板狀樣品無需破壞，仍可獲得高分辨率    

3.可編程掃描工藝，簡化操作人員的工作量    

4.專用自動識別算法，定量統(tǒng)計器件內部的缺陷

三. 技術指標

X射線源：130KV/160KV

探測器：數字平板探測器

分辨率：5μm~30μm

基板面板：610mm×610mm

基板厚度：0.5mm~7.0mm(PCB)

基板重量：10kg

X射線防護：0.5μSv/h  

二. 應用領域

航空航天、電子