美國Sumix MAX-QS+白光干涉儀測粗糙度 光學(xué)3D表面輪廓測量儀

美國Sumix MAX-QS+干涉儀MAX-QS+ 是一款白光相移干涉儀，用于檢測單光纖 ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纖 MT-RJ（PC 和 APC）、SMA 和特殊連接器。MAX-QS+ 具有便攜式設(shè)計(jì)、自動(dòng)對(duì)焦、100 微米光纖高度掃描范圍和 1.1 微米分辨率。

該設(shè)備通過 USB 3.0 電纜和 12V 直流電源適配器連接到筆記本電腦或臺(tái)式計(jì)算機(jī)。

Sumix MAX-QS+ 配備行業(yè)的 MaxInspect™ 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。

Sumix MAX-QS+干涉儀特征：

1：高分辨率 2D 和 3D 表面輪廓

探索小至 1.1 μm 的表面細(xì)節(jié)。

2：自動(dòng)對(duì)焦

將操作員的操作降至很低，只需單擊一下。

3：結(jié)合異常檢測和幾何測試

加快巡檢速度，提高工作效率。

4：快速測量

在 2 秒或更短的時(shí)間內(nèi)測量單個(gè)光纖連接器。

5：顯微鏡模式

在測量之前目視檢查連接器端面。

6：行業(yè)的 MaxInspect™ 自動(dòng)檢測軟件

測量曲率半徑、頂點(diǎn)偏移、纖維高度等。

7：超過 1000 微米的光纖高度掃描范圍

準(zhǔn)確檢測具有較大不連續(xù)性和特殊連接器的套圈表面。

8：數(shù)據(jù)庫連接

將所有本地站點(diǎn)的測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)地方，并輕松地將 Sumix 設(shè)備集成到您的制造系統(tǒng)中

MAX-QS+干涉測量系統(tǒng)包括：

• MAX-QS+干涉儀

• 用于設(shè)備驗(yàn)證的光學(xué)平面標(biāo)準(zhǔn)

• USB 3.0 數(shù)據(jù)線

• AC適配器

• 內(nèi)六角扳手

• 箱

• MaxInspect™ 軟件許可證

Sumix MAX-QS+ 規(guī)格